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老化是一種試驗(yàn)，用來篩選或排除少量因制造失常而導(dǎo)致固有缺陷或缺陷的設(shè)備，而這些缺陷會(huì)引發(fā)和時(shí)間和應(yīng)力相關(guān)的故障。

為什么要老化？

 
我們選用可靠性專家經(jīng)常使用一個(gè)圖像來描述產(chǎn)品的壽命，這個(gè)圖像被稱作浴盆曲線。

浴盆曲線由三個(gè)階段組成：故障率減小的早期故障階段，接下來為正常壽命階段（也叫做有效壽命），故障率較低且相對(duì)穩(wěn)定，zui后為磨損階段，故障率是增加的。

很多類型的設(shè)備和系統(tǒng)在早期壽命中展示出固有的減少的故障率特性。相對(duì)較高的早期故障率通常歸因于生產(chǎn)過程中的固有不確定性。很長(zhǎng)時(shí)間以來，老化已經(jīng)被認(rèn)為是在交貨前檢測(cè)和消除部件或系統(tǒng)早期故障的一種有效方法。沒有老化，缺陷部件可能就被交付到了用戶手中，導(dǎo)致昂貴的現(xiàn)場(chǎng)維修和名譽(yù)上的損害。

對(duì)一電子部件進(jìn)行老化試驗(yàn)。在初始的試驗(yàn)中，累積的故障百分比如下：

 
1、第1天有6%故障
 
2、第2天有10.1%故障

3、第3天有12%故障

4、第4天有13.8%故障

5、第5天有14.5%故障

6、第6天有15%故障

7、第7天有15.1%故障

  
老化就是藉由讓半導(dǎo)體進(jìn)行超負(fù)荷工作而使缺陷在短時(shí)間內(nèi)出現(xiàn)，避免在使用早期發(fā)生故障。如果不藉由老化，很多半導(dǎo)體成品由于器件和制造制程復(fù)雜性等原因在使用中會(huì)產(chǎn)生很多問題。
注意，老化并非是產(chǎn)品改進(jìn)技術(shù)。對(duì)一些產(chǎn)品進(jìn)行老化不能改善每個(gè)單元單獨(dú)的可靠性。然而，老化通過清除劣質(zhì)的部分來提高了整體的可靠性，使得單元總體更加可靠和均勻。老化同樣還會(huì)提供
造成早期故障的不同故障機(jī)理的重要信息，為監(jiān)控制造過程的質(zhì)量工程師和幫助分析導(dǎo)致早期故障機(jī)理出現(xiàn)的變化提供有價(jià)值的反饋。

尚測(cè)生產(chǎn)的各種老化房符合標(biāo)準(zhǔn)：

1.GB/T 2423.2—2008《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫》；

2、MIL-STD-883D、MIL-M-38510、GJB548、GJB597等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。

適用范圍：適用于各種封裝形式的模擬、大、中、小規(guī)模數(shù)字、數(shù)模混合集成電路，包括可編程器件、微處理器、邏輯電路、存儲(chǔ)器、A/D、D/A等器件的工作壽命試驗(yàn)和高溫動(dòng)態(tài)老化篩選。

一、集成電路高溫老化系統(tǒng)技術(shù)特點(diǎn)：

① 、 一板一區(qū)，可滿足16種不同試驗(yàn)參數(shù)的器件同時(shí)老化。

②  、 完善的、種類齊全的老化器件數(shù)據(jù)庫可供用戶調(diào)用。

③ 、強(qiáng)大的圖形發(fā)生系統(tǒng)，64路數(shù)字和2路模擬可編程信號(hào)。

二、PCBA老化房技術(shù)性能：

2.1、PCBA老化房試驗(yàn)區(qū)域
 
16個(gè) （一板一區(qū)）：8個(gè) （一板一區(qū)）
 

2.2、試驗(yàn)容量
 
200×16=320位（以DIP14為例）：136×8=1088位（以DIP14為例）  
 

2.2.1、一級(jí)電源
 
8∽16臺(tái)25V/40A或40V/2等規(guī)格可選；4∽8臺(tái)25V/40A或40V/2等規(guī)格可選
 

2.2.2、二級(jí)電源
 
◆、每路二級(jí)電源具有過壓、欠壓、過流、短路和過熱等保護(hù)功能。

◆、每個(gè)通道提供獨(dú)立程控的VCC、VMUX、VCLK、VEE四路二級(jí)電源。

◆、電源監(jiān)測(cè)：實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)記錄二級(jí)電源的電壓，并可生成圖形曲線，便于試驗(yàn)監(jiān)控。

◆、輸出能力：±1.00V～±18.00V/10A。
 

2.2..3、數(shù)字信號(hào)

◆每個(gè)通道：64路數(shù)字信號(hào)。

◆編程能力：編程深度256Kbit；zui小編程步長(zhǎng)：100ns；編程分辨率：100ns；zui高信號(hào)頻率：5MHz。

◆尋址能力：可尋址64Gbit(老化ROM/SRAM等) A00～A35, 可尋址行列地址刷新器件64Gbit（老化DRAM/SDRAM等）AXX～A17，AYY：A00～A17。

◆驅(qū)動(dòng)能力：IOL≥300mA、IOH≥100mA、Tr≤50ns、Tf≤50ns。

◆信號(hào)特性：每路均具有數(shù)據(jù)、地址、控制、三態(tài)屬性編輯功能。
 

2.2..4、集成電路高溫老化系統(tǒng)模擬信號(hào)
 
◆、模擬信號(hào)數(shù)：2路

◆、波形類型：三角波、正弦波、前沿鋸齒波、后沿鋸齒波、矩形波。

◆、模擬信號(hào)指標(biāo)： 信號(hào)可編程頻率：1Hz～32KHz； 程控幅度范圍Vpp：0～±10V；

     直流偏移量范圍Vdc：0～1/2 Vpp；編程步長(zhǎng): 0.01V；驅(qū)動(dòng)能力：≥1.0A；